机译:基于多相维纳退化模型的高性能电容器的存储寿命预测
Department of Systems Engineering, College of Information Systems and Management, National University of Defense Technology, Hunan, China;
Ingram School of Engineering, Texas State University, San Marcos, Texas, USA;
机译:基于多相维纳退化模型的高性能电容器的存储寿命预测
机译:基于维纳过程的多相恶化过程剩余使用寿命预测
机译:基于多种退化措施和基于微粒群优化的灰色模型的钽电容器寿命预测
机译:储存寿命预测模型在引信储存寿命预测中的性能下降分布
机译:实时退化建模和剩余寿命预测,用于组件维护和更换
机译:基于技术-计算机辅助设计的DRAM存储电容器可靠性预测模型
机译:基于非线性降解模型的加速度计储存寿命预测
机译:放电深度对蓄电池循环寿命影响的预测模型。