机译:电子元件和互连系统的故障分析
Product Assurance Group, Product Assurance Response Centre (PARC), BAE SYSTEMS, Great Baddow, Chelmsford, UK;
electronic equipment and components; radiography; reliability management;
机译:基于非相同相关组分的故障类型的通用电子系统可靠性模型及敏感性分析
机译:液晶显示技术,电子互连和故障分析综述
机译:电子元件自动互连系统
机译:新型自动靶材制备系统对电子和微电子元件的失效分析
机译:使用故障树分析检测安全关键嵌入式系统中的组件故障和关键组件
机译:使用迭代加权L1主成分分析的电子鼻系统数据重建
机译:根据在不同环境条件下确定的组件故障率来预测电子子系统故障之间的平均时间
机译:使用高密度射线照相分析电子元件故障