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Das neue SPECTRO XEPOS setzt neue Massstäbe in der ED-RFA-Elementanalyse

机译:新的SPECTRO XEPOS在ED-XRF元素分析中树立了新标准

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摘要

SPECTRO Analytical Instruments hat heute die Einführung der neuen Generation des energiedispersiven Rönt-genfluoreszenz-Spektrometers(ED-RFA) SPECTRO XEPOS bekanntgegeben. Die neue Modellreihe stellt einen Quantensprung in der ED-RFA-Technologie dar und ermöglicht bahnbrechende Fortschritte bei der MultiElement-Analyse unterschiedlicher Konzentrationen - bis hin zu Spurenelementen. Durch neue Entwicklungen im Bereich Anregung und Detektortechnologie bietet das SPECTRO XEPOS eine aussergewöhnliche Messempfindlichkeit und extrem niedrige Nachweisgrenzen -mit bemerkenswerter Verbesserung von Präzision und Genauigkeit. Insbesondere bei anspruchsvollen Aufgaben spielt das SPECTRO XEPOS seine Stärken aus - egal ob es dabei um schnelle Übersichtsanalysen von Umwelt- und Abfallproben oder um anspruchsvolle Anwendungen in Forschung, Wissenschaft und Geologie geht. Es ermöglicht präzise Qualitätskontrollen für eine Fülle von Anwendungen, beispielsweise in den Bereichen Petrochemie, Chemie, Klinker/Zement/Schlacke, Kosmetika, Nahrungs- und Futtermittel, Pharmazie und vielen mehr.
机译:SPECTRO Analytical Instruments今天宣布推出新一代能量色散X射线荧光光谱仪(ED-RFA)SPECTRO XEPOS。新的模型系列代表了ED-XRF技术的巨大飞跃,并实现了对不同浓度的多元素分析(一直到痕量元素)的突破性进展。得益于激励和检测器技术的新发展,SPECTRO XEPOS提供了卓越的测量灵敏度和极低的检测极限-精确度和准确性有了显着提高。 SPECTRO XEPOS尤其在涉及苛刻任务时显示出自己的优势-无论它涉及对环境和废物样本的快速概览分析,还是涉及研究,科学和地质方面的苛刻应用。它可实现广泛应用的精确质量控制,例如在石油化工,化学,熟料/水泥/矿渣,化妆品,食品和饲料,制药等领域。

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  • 来源
    《Chimia》 |2016年第2期|A159-A159|共1页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);
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  • 正文语种 ger
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