机译:Zn_(1-x)Cd_xSe薄膜的X射线光电子能谱
Laboratory for electro-optics system, ISRO, Peenya Industrial Estate, Bangalore-560 058, India;
auger parameter; electron beam; thin film; Zn_(1-x)Cd_xSe; XPS;
机译:CD取代对Zn_(1-x)CD_xSE薄膜结构和光学性质的影响
机译:跨Sr_(1-x)La_xCuO_2 / Au / Nb平面隧道结的电传输以及Sr_(1-x)La_xCuO_2 / N薄膜的x射线光电子和俄歇电子能谱
机译:Si(111)上外延Ce_(1-x)Pr_xO_(2-δ)(x = 0-1)薄膜的温度依赖性还原:程序升温解吸,X射线衍射,X射线光电子能谱和拉曼研究
机译:热处理薄HFO
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:X射线光电子能谱飞行时间二次离子质谱法和含NHS的有机薄膜的水解再生和反应性的主成分分析
机译:X射线光电子能谱分析的溅射清洗外延VxMo(1-x)Ny / MgO(001)薄膜:2.单晶V0.47Mo0.53N0.92