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Sub-micron mapping of GHz magnetic susceptibility using scanning transmission x-ray microscopy

机译:使用扫描透射X射线显微镜对GHz磁化率进行亚微米制图

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摘要

We report submicron imaging (∼0.75 μm resolution) of complex magnetic susceptibility in a micron-size ferromagnetic heterostructure using time-resolved scanning transmission x-ray microscopy. The real and imaginary parts of the susceptibility are extracted from the phase and amplitude of the small-angle (<20°) rotational response of the local magnetization under microwave excitation. Frequency-dependent response patterns were observed in an incompletely saturated bilayer element. The technique is extensible to higher frequencies (to ∼10 GHz), better spatial resolution, and layer-specific measurement.
机译:我们报告了使用时间分辨扫描透射X射线显微镜在微米级铁磁异质结构中的复杂磁化率的亚微米成像(约0.75μm分辨率)。磁化率的实部和虚部是从微波激励下局部磁化的小角度(<20°)旋转响应的相位和振幅中提取的。在不完全饱和的双层元件中观察到频率相关的响应模式。该技术可扩展到更高的频率(至约10 GHz),更好的空间分辨率和特定于层的测量。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2012年第18期|p.1-4|共4页
  • 作者

    Cheng Cheng; Bailey William E.;

  • 作者单位

    Materials Science and Engineering Program, Department of Applied Physics and Applied Mathematics, Columbia University, New York, New York 10027, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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