机译:负极材料对NiO薄膜电阻特性的影响
School of Microelectronics and Solid-State Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, Sichuan 610054, China;
Auger electron spectra; MIM structures; anodes; dissolving; nickel compounds; thin films; vacancies (crystal); 6172jd; 7340Rw; 7920Fv; 8245Fk; 8245Qr; 8280Pv;
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