机译:使用微波辐照改善非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的栅极偏置应力不稳定性
Department of Electronic Materials Engineering, Kwangwoon University, 447-1, Wolgye-dong, Nowon-gu, Seoul 139-701, South Korea;
机译:使用微波辐照改善非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的栅极偏置应力不稳定性
机译:顶栅偏压对双栅非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管光电流和负偏压照明应力不稳定性的影响
机译:栅绝缘体中电荷陷阱密度分布对非晶铟镓锌氧化锌薄膜晶体管的正偏应力不稳定性的影响
机译:负偏压和照明应力下漏极偏压对非晶InGaZnO薄膜晶体管不稳定性的影响
机译:铟镓锌氧化物和锌锡氧化物薄膜晶体管的制造工艺评估和负偏压照明应力研究。
机译:钝化层对非晶InGaZnO薄膜晶体管正栅极偏置-应力稳定性的影响
机译:非晶氧化物半导体薄膜晶体管中的栅极偏置应力