机译:具有超低净掺杂浓度的4H-SiC(0001)MOSFET的反向沟道中的理想声子散射限制迁移率
Natl Inst Adv Ind Sci & Technol Adv Power Elect Res Ctr 16-10nogawa Tsukuba Ibaraki 3058569 Japan;
Osaka Univ Grad Sch Engn 2-1 Yamadaoka Suita Osaka 5650871 Japan;
Univ Tsukuba Grad Sch Pure & Appl Sci 1-1-1 Tennodai Tsukuba Ibaraki 3058577 Japan;
机译:利用磷掺杂的栅氧化物改善Si面上4H-SiC MOSFET的反向沟道迁移率
机译:沟道区Al掺杂浓度对4H-SiC沟道N-MOSFET迁移率和阈值电压不稳定性的影响
机译:低温湿式O_2退火工艺可增强4H-SiC(0001)Si面上的反型沟道迁移率并抑制V_(fb)不稳定
机译:H_2氧化后退火在4H-SiC C(0001)面上制造的MOSFET的高反向沟道迁移率
机译:4H-SIC沟槽MOSFET:实用的表面沟道迁移率提取
机译:氢气下生长后退火在4H-SiC(0001)上外延石墨烯中的高电子迁移率
机译:具有邻近(1°)偏角的C(000-1)外延衬底上制作的4H-siC mOsFET的高反型沟道迁移率
机译:具有高迁移率的常闭4H-siC沟槽栅极mOsFET(预印刷)