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Hydrogen-induced defects and degradation in oxide ferroelectrics

机译:氢致氧化物铁电体中的缺陷和降解

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摘要

We investigate hydrogen-induced defects in BaTiO3, PbTiO3, PbZrO3, and strontium bismuth tantalate (SBT). We find that interstitial hydrogen produces a shallow level and OH- ions leading to loss of switchable polarization if the oxide's band gap is under about 4.2 eV, but hydrogen is deep in wide gap compounds like BaZrO3. In SBT, hydrogen is more stable in the Bi-O layer. (C) American Institute of Physics.
机译:我们调查了BaTiO3,PbTiO3,PbZrO3和钽酸锶铋(SBT)中氢致的缺陷。我们发现,如果氧化物的带隙低于约4.2 eV,则间隙氢会产生较浅的氢离子和OH-离子,从而导致可转换的极化损失,但是在诸如BaZrO3的宽间隙化合物中氢很深。在SBT中,氢在Bi-O层中更稳定。 (C)美国物理研究所。

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