机译:氢致氧化物铁电体中的缺陷和降解
Univ Cambridge, Dept Engn, Cambridge CB2 1PZ, England;
THIN-FILM CAPACITORS; PB(ZR; TI)O-3; MECHANISMS; INSULATORS; DEUTERIUM; ELECTRODE; BARRIERS; MEMORIES; DAMAGE;
机译:晶界在薄膜铁电电容器中氢诱导的降解中的作用
机译:铁电Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)和PbZr_(0.4)Ti_(0.6)O_3的氢诱导降解
机译:镍电镀过程中氢诱导的PMN基弛豫铁电材料的降解
机译:氢诱导金顶电极降解铁电SrBi_2Ta_2O_9薄膜的钝化和钝化
机译:钙钛矿介电和铁电氧化物中结构缺陷的非线性光学研究
机译:用于太阳能转换多源能量收集/传感和光电铁电应用的铁电氧化物
机译:利用相场模型模拟PZT铁电陶瓷中氢的扩散和氢致裂纹的引发
机译:pb(Zr(sub 1-x)Ti(sub x))O(sub 3)(pZT)和srBi(sub 2)Ta(sub 2)O(sub 9)sBT铁电薄膜中氢诱导降解过程的研究基于电容器