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Ultrasensitive nanoelectromechanical mass detection

机译:超灵敏的纳米机电质量检测

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摘要

We describe the application of nanoelectromechanical systems (NEMS) to ultrasensitive mass detection. In these experiments, a modulated flux of atoms was adsorbed upon the surface of a 32.8 MHz NEMS resonator within an ultrahigh-vacuum environment. The mass-induced resonance frequency shifts by these adsorbates were then measured to ascertain a mass sensitivity of 2.53×10~(-18) g. In these initial measurements, this sensitivity is limited by the noise in the NEMS displacement transducer; the ultimate limits of the technique are set by fundamental phase noise processes. Our results and analysis indicate that mass sensing of individual molecules will be realizable with optimized NEMS devices.
机译:我们描述了纳米机电系统(NEMS)在超灵敏质量检测中的应用。在这些实验中,在超高真空环境中,已调制的原子通量被吸附在32.8 MHz NEMS谐振器的表面上。然后测量这些吸附物在质量上引起的共振频率偏移,以确保质量灵敏度为2.53×10〜(-18)g。在这些初始测量中,此灵敏度受到NEMS位移传感器中噪声的限制;该技术的极限由基本相位噪声过程确定。我们的结果和分析表明,使用优化的NEMS设备可以实现单个分子的质量传感。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2004年第22期|p.4469-4471|共3页
  • 作者单位

    Condensed Matter Physics, 114-36, California Institute of Technology, Pasadena, California 91125;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:23:17

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