机译:PI / SiO2 sub>杂化薄膜断裂的必要和非必要工作
Institute of Engineering Mechanics Beijing JiaoTong University Beijing 100044 China;
Institute of Engineering Mechanics Beijing JiaoTong University Beijing 100044 China;
thin film; fracture; plane-stress condition; EWF; SEM; FE method;
机译:PI / SiO_2杂化薄膜断裂的必要和非必要工作
机译:聚(2,6-萘二甲酸乙二醇酯)(PEN)非晶薄膜断裂的必要和非必要工作的分子依赖性
机译:轴向填充PET薄膜断裂的本质和非本质工作
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机译:通过混合网络调整碳纳米管薄膜的电子特性
机译:遗传分析显示Cdc13p的端粒DNA结合界面内的必需氨基酸和非必需氨基酸
机译:通过添加SiO2 / TiO2纳米复合材料调节供体/受体混合薄膜的光物理性质