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机译:拉曼光谱法评估掺杂二氧化铈薄膜中各向异性应变的适用性
Weizmann Inst Sci, Dept Mat & Interfaces, IL-76100 Rehovot, Israel;
Weizmann Inst Sci, Dept Mat & Interfaces, IL-76100 Rehovot, Israel;
Weizmann Inst Sci, Dept Mat & Interfaces, IL-76100 Rehovot, Israel;
Weizmann Inst Sci, Dept Mat & Interfaces, IL-76100 Rehovot, Israel;
Weizmann Inst Sci, Dept Mat & Interfaces, IL-76100 Rehovot, Israel;
Weizmann Inst Sci, Dept Mat & Interfaces, IL-76100 Rehovot, Israel;
Nucl Res Ctr, Dept Phys, POB 9001, IL-84190 Beer Sheva, Israel;
anelastic relaxation; doped ceria; Gruneisen parameter; Raman spectroscopy;
机译:GD掺杂的二氧化碳薄膜中的非弹性松弛:微拉曼光谱
机译:纳米晶二氧化铈和氧化锆薄膜的拉曼光谱
机译:掺杂X射线吸收细结构光谱法的掺杂二氧化铈膜的原子水平模拟应变分布
机译:使用水浸拉曼光谱法的碳掺杂硅的各向异性双轴应变评估
机译:研究晶界,膜界面和晶体学取向对掺杂g的二氧化铈薄膜离子电导率的影响。
机译:原位拉曼光谱探测掺杂的二氧化铈氧化镍和金属陶瓷复合材料的还原动力学
机译:通过极化拉曼光谱法探测的稀土取代的二氧化铈薄膜的各向异性菌株和第一原理计算