机译:测定能量在10.5-111.9 keV之间的Zr,Ag,In中的X射线总衰减系数
机译:在29-60 keV的能量范围内测量X射线质量衰减系数并确定锡的原子形态因子的虚部
机译:X射线质量衰减系数的测量和13.5-41.5keV能量范围内的钼原子形态因子的虚部的确定
机译:使用高精度测量银的11 keV-28 keV的x射线质量衰减系数从XAFS确定结构,并开发了一种全能方法来对键长进行局部动力学分析,揭示了整个XAFS的有效热贡献的变化光谱
机译:光子相互作用横截面和质量衰减系数的研究将木材的化学成分在1Kev至100mev的能量范围内基础
机译:含有H,B,C,N,O,F,Si,P,S和CL的分子的总电子散射横截面在0.1-6.0 keV中
机译:高分辨率光谱仪可在6 keV至15 keV的能量范围内扩展X射线吸收精细结构的测量
机译:1Kev至100Mev能量范围内光子相互作用截面和质量衰减系数取决于木材化学成分的研究
机译:X射线质量衰减系数在1.49至11.9 Kev范围内