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NANOSTRUCTURING AND HARDNESS INVESTIGATIONS OF THIN FILMS BY SCANNING FORCE MICROSCOPY

机译:扫描力显微镜对薄膜的纳米结构和硬度研究

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摘要

The scanning force microscope was used to scratch thin films and to write nanoscale pattern on surfaces as well as to perform nanoindentation for hardness measurements. Different thin film materials such as C_(60) films, diamond-like carbon, metals and semiconducting films have been investigated.
机译:扫描力显微镜用于刮擦薄膜并在表面上写入纳米级图案,以及执行纳米压痕以进行硬度测量。已经研究了不同的薄膜材料,例如C_(60)薄膜,类金刚石碳,金属和半导体薄膜。

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