...
首页> 外文期刊>Автоматика и Телемехелемех >Malfunctioning detection in combination circuits via self-dual duplication
【24h】

Malfunctioning detection in combination circuits via self-dual duplication

机译:通过自我双重复制检测组合电路中的故障

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号