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Performance of a semiconductor SPECT system: comparison with a conventional Anger-type SPECT instrument

机译:半导体SPECT系统的性能:与传统的Anger型SPECT仪器比较

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摘要

ObjectiveThe performance of a new single photon emission computed tomography (SPECT) scanner with a cadmium-zinc-telluride (CZT) solid-state semiconductor detector (Discovery NM 530c; D530c) was evaluated and compared to a conventional Anger-type SPECT with a dual-detector camera (Infinia).
机译:目的评估具有镉锌碲化物(CZT)固态半导体检测器(Discovery NM 530c; D530c)的新型单光子发射计算机断层摄影(SPECT)扫描仪的性能,并将其与具有双重检测功能的常规Anger型SPECT进行比较-检测器摄像机(Infinia)。

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