基于QT-RF6G的S参数测试系统实现

摘要

5G通信网络现在已经在如火如荼地进行组网,但兵马未动,粮草先行,在这之前很长一段时间,关于5G的讨论从未停止过,而5G的核心元器件也早已成为各个芯片厂商的重要发展方向,并且5G芯片的市场会越来越大,这就造成5G芯片市场在百家争鸣的同时,也会带来越来越大的压力.只有高性能的产品才能在日益激烈的竞争中立于不败之地,因此从研发到生产芯片,再到验证及出货,每个环节都至关重要.联动科技作为国内后道封装测试的领导者,在相关测试设备研发上已有较大突破,本文基于联动科技QT-RF6G的对LNA中S参数测试功能的开发实现进行研究.