基于Poisson-Normal过程性能退化模型的可靠性分析

张永强; 冯静; 刘琦; 周经伦

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基于Poisson-Normal过程性能退化模型的可靠性分析

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对于高可靠长寿命产品,基于性能退化数据分析产品可靠性是一种行之有效的技术途径.由于有时无法用确定的物理/化学过程定量描述性能退化过程,借助随机过程方法建立退化模型是有效的技术途径.提出了基于Poisson-Normal过程的性能退化模型,给出了参数估计算法和可靠性估计的计算公式,结合实例说明了方法的有效性.

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来源
《系统工程与电子技术》|2006年第11期|1775-1778|共4页
作者
张永强; 冯静; 刘琦; 周经伦;
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作者单位

国防科技大学信息系统与管理学院,湖南,长沙,410073;

北京跟踪与通信技术研究所,北京,100094;

国防科技大学信息系统与管理学院,湖南,长沙,410073;

国防科技大学信息系统与管理学院,湖南,长沙,410073;

国防科技大学信息系统与管理学院,湖南,长沙,410073;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP114;
关键词
可靠性; 性能; 退化; 正态分布; 泊松过程;
入库时间 2022-08-18 10:40:20

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