基于近场辐射的非接触式数字信号测试方法

摘要

为解决自动测试系统的探针寿命及测试可靠性问题,提出一种针对数字电路的非接触式测试方法.利用平板天线及电荷放大器对节点近场辐射进行探测,通过边沿判别的方法恢复原始数字信号.讨论了天线模型、节点间串扰、判决门限选取等问题.给出了硬件实现方案,通过实验验证了该方法的有效性并测试其性能.