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基于Bayes的量度继电器成功率可靠性验证试验

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摘要

提出了量度继电器的可靠性指标体系,研究了用Bayes理论设计航天、航空用量度继电器产品的成功率验证试验方案.并与经典方法设计的成功率验证试验方案进行了比较.在特定的先验信息下,Bayes方案所需样本容量较小.

著录项

来源
《系统工程与电子技术》 |1999年第8期|60-63|共4页
作者
唐义良; 王景芹; 陆俭国;
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作者单位

清华大学;

北京;

100084;

河北工业大学;

天津;

300130;

河北工业大学;

天津;

300130;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
可靠性; 验证试验; 继电器; +成功率;

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