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复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析

【摘要】 机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因.在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式,并以此提出了相应的技术解决路线,这对BIT系统的故障诊断设计具有参考价值.

【期刊名称】 系统工程与电子技术

【作者】 徐永成; 温熙森; 易晓山;

【作者单位】 国防科大机械电子工程与仪器系,; 国防科大机械电子工程与仪器系,; 国防科大机械电子工程与仪器系,;

【收录信息】北京大学中文核心期刊目录(北大核心);中国科学引文数据库(CSCD);中国科技论文与引文数据库(CSTPCD);

【年(卷),期】2001(023),012

【年度】2001

【页码】8-11

【总页数】4

【原文格式】PDF

【正文语种】chi

【中图分类】TN06;

【关键词】测试技术;故障诊断;数学模型;虚警概率;

【原文服务方】国家工程技术数字图书馆

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