复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析

摘要

机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因.在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式,并以此提出了相应的技术解决路线,这对BIT系统的故障诊断设计具有参考价值.