宣德官窑青花瓷的面扫描分析

杨益民; 冯敏; 朱剑; 毛振伟; 王昌燧; 黄宇营; 何伟

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宣德官窑青花瓷的面扫描分析

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用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析, 结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式. 根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Hg, Rb, Sr, Y和Zr等13个元素分为3组. 它可作为各个朝代青花瓷"指纹元素"的选择依据, 并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路.

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来源
《光谱学与光谱分析》|2004年第8期|902-906|共5页
作者
杨益民; 冯敏; 朱剑; 毛振伟; 王昌燧; 黄宇营; 何伟;
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作者单位

中国科学技术大学科技史与科技考古系,安徽,合肥,230026;

中国科学技术大学科技史与科技考古系,安徽,合肥,230026;

中国科学技术大学科技史与科技考古系,安徽,合肥,230026;

中国科学技术大学科技史与科技考古系,安徽,合肥,230026;

中国科学技术大学科技史与科技考古系,安徽,合肥,230026;

中国科学院高能物理研究所,北京,100039;

中国科学院高能物理研究所,北京,100039;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类古物鉴定;射线与物质的相互作用;
关键词
青花瓷; SRXRF; 面扫描; 无损检测;
入库时间 2022-08-18 02:21:34

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