质子辐照对防静电热控涂层导电性能影响

赵春晴; 沈自才; 冯伟泉; 丁义刚; 刘宇明; 郑慧奇; 赵雪; 李涛

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文章研究了质子辐照环境对两种防静电热控涂层(ITO/F46/Ag、ITO/OSR/Ag)导电性能的影响,质子总注量选取1×1015p/cm2,并在不同质子注量下对试样表面电阻率进行了原位测量.试验发现,质子辐照下两种防静电热控涂层的表面电阻率均呈指数衰减趋势,且回至大气中出现明显的"恢复效应".对涂层导电性能退化的微观机制进行了分析,并建立了相应导电性能演化规律的简化数学模型,可为新型涂层的研制提供理论依据.

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来源
《航天器环境工程》 |2009年第2期|118-121|共4页
作者
赵春晴; 沈自才; 冯伟泉; 丁义刚; 刘宇明; 郑慧奇; 赵雪; 李涛;
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作者单位

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

北京卫星环境工程研究所,北京,100094;

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正文语种 chi
中图分类电性质;环境模拟;
关键词
质子辐照; 热控涂层; 导电性能; 退化机理;

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