显微超声技术在上颌第1恒磨牙根管探查中的应用

摘要

以60颗离体上颌第1恒磨牙为研究对象.首先采用传统方法开髓并探查近颊第2根管(MB2)口,未能发现MB2者改良髓腔形态后继续探查,最后在牙科显微镜下采用超声技术对肉眼未能发现MB2的离体牙进行最终探查和确认.结果传统方法探查MB2发现率为31.7%,改良髓腔形态后发现率增至61.7%,使用牙科显微镜后发现率提高至83.3%.近颊两根管口的间距为(1.42±0.46) mm.认为显微超声技术有助于发现较隐匿的MB2根管口,完善根管治疗.