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基于ADuC7060的多功能过程信号校验仪

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设计了基于ADuC7060的多功能过程信号校验仪,介绍了系统软硬件设计.该产品具有很高的性价比,在很多场合可以取代昂贵的进口校验仪.

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来源
《传感器世界》 |2011年第8期|34-36|共3页
作者
高海涛;
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作者单位

深圳万讯自控股份有限公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电数量的测量及仪表;
关键词
ADuC7060; 信号校验仪;

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