近红外光谱技术在小麦粉品质检测方面的应用研究进展

摘要

近红外光谱(NIRS)技术是当前发展最快、最具前景的现代无损分析技术之一。NIRS技术融合了计算机、光学、数学、化学和化学计量学等多个学科的最新研究成果,具有简便、快速、低成本、无污染、不接触等优点,目前被广泛应用于食品品质分析与检测研究。本文综述了近十年来NIRS技术在小麦粉理化指标(如水分、灰分、蛋白质、淀粉)、粉质指标(如面筋、面筋指数分、沉降值、吸水量、形成时间、稳定时间、弱化度)及掺杂物(如甲醛次硫酸氢钠、滑石粉、过氧化苯甲酰、石灰、偶氮甲酰胺、曲酸)等方面的检测研究进展。同时,基于当前研究进展,NIRS技术在光谱数据挖掘、建模算法优化、模型稳健性等方面还需大量研究,为研发小麦粉质量快速无损检测设备提供更多数据支撑和方法参考。