正电子用于检测金的纳米表面缺陷

摘要

@@ 美国橡树岭国家实验室(ORNL)能源所的一个国际研究小组称,采用正电子检测到了位于金纳米颗粒表面上的四原子空位簇,金颗粒嵌在镁基体中.空位簇解释了不同制备工艺引起的材料光学性能的改变.过去由于无法对空位进行检测,严重制约了新材料及高性能材料的开发,如新一代光电子器件.这对于纳米器件中的空位尤为重要.