首页> 中文期刊>印刷技术 >科雷机电推出TSS分光密度扫描测量与分析系统

科雷机电推出TSS分光密度扫描测量与分析系统

     

摘要

随着社会经济的快速发展,人们对印刷品的质量要求也越来越高,而色彩还原的准确与否直接影响人们对印刷品质量的评价。如何在提高印刷品质量的情况下又不失效率是印刷企业面临的一大难题,因此全自动扫描仪器和质量控制系统应运而生。

著录项

  • 来源
    《印刷技术》|2015年第15期|65|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-17 12:35:58

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号