基于参数退化的集成电路贮存寿命试验评价

摘要

本文介绍了基于参数退化的寿命试验的理论与方法。通过开展SRAM贮存寿命试验，并对试验数据处理与分析，验证了基于参数退化寿命试验方法与程序，试验系统以及试验数据分析方法的有效性。在有限的试验时间内，经过数据分析建立样品敏感参数退化模型，对样品的贮存寿命进行预计。