红外线用于检测硅片隐裂的方法

摘要

隐裂是太阳能电池片的隐形杀手。前期硅片隐裂可造成后期电池碎片甚至是组件的不合格品,如不能进行及时检测,对加大的增加产成品的成本。利用某波段的红外线不可被硅材料吸收或者直接穿透硅材料,只能在硅片表面进行全反射的原理来检测硅片的隐裂,控制生产制造成本。