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张斌; 王均平;
清华大学电力电子厂,北京,102201;
电力半导体器件; 中子辐照; 安全性;
机译:在快中子实验堆“ Joyo”中辐照的U,Am样品的辐照分析,以在快中子增殖反应堆毯中生产受保护的p
机译:在1030-1330摄氏度用快中子辐照的纯pure的膨胀,辐照蠕变和生长
机译:快中子辐照铀 - 钚氮化物中β-放射性金属间质的相和化学转化
机译:热和快中子光谱反应器中316和304L不锈钢的辐照蠕变和辐照应力松弛
机译:快中子辐照硅正P-N-正N二极管电容特性的深陷阱模型的建立。
机译:蛋白质和油的反相关:使用大豆快中子突变体研究改变的中心碳代谢对种子组成的影响
机译:反应器辐照对santowax WR的影响:在40%快中子分数下从425°F到800°F的辐照
机译:用于检测局部中子损伤与石墨微结构相关性的扫描微尺度快中子辐照平台的研制。
机译:安全评价装置,安全评价方法及安全评价程序
机译:将快中子辐照到耐火材料
机译:快中子反应器辐照燃料处理时K,氙气净化过程
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