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用新型红外测温仪观察由钨丝电子发射引起的损耗

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在金属电子逸出功测定实验中,未考虑由钨丝电子发射引起的损耗,存在约-1.86%的系统误差.用新型红外测温仪可以观察到因上述损耗而出现的钨丝温度的变化,为修正该系统误差提供直接的观察依据.

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来源
《物理实验》 |2006年第12期|8-11|共4页
作者
郭希铭; 张岷; 陆文强; 曹柏林;
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作者单位

天津师范大学,物理与电子信息学院,天津,300074;

天津理工大学理学院,天津,300191;

南开大学,物理学院,天津,300071;

天津理工大学理学院,天津,300191;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光致发射、光阴极、外光电效应;
关键词
红外测温仪; 逸出功; 发射损耗;

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