凹面光栅成像的谱线线形以及杂散光的计算

摘要

提出了一种计算凹面光栅成像的谱线强度分布和计算凹面光栅三种随机误差造成的杂散光强度分布的方法。这种方法在采用光线追迹方法的同时,也考虑到了凹面光栅的衍射效率及光栅误差造成的衍射及散射作用。并以—Seya-Namioka型光谱仪为例说明结果。