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透射式光热偏转技术实验装置的建立及应用

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应用透射式的光热偏转光谱技术,建立了一套实验装置.应用这套实验装置,测量了520nm～555nm(TiO2+ZrO2)/SiO2多层高反膜的激光损伤情况.实验结果表明透射式的光热偏转技术是一种非常灵敏的热波探测技术,即使在小功率的泵浦能量条件下,它也能获得比较大的光热偏转信号.

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来源
《光学仪器》 |2002年第4期|73-77|共5页
作者
刘鹏程; 沈剑峰; 施柏煊;
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作者单位

浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027;

浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027;

浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类薄膜测量与分析;
关键词
透射式光热偏转技术; 光学薄膜; 激光损伤阈值;

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