激光量热法测量红外光学薄膜吸收

刘志国; 熊胜明; 张云洞

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激光量热法测量红外光学薄膜吸收

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建立了一种评价波长为1.319μm光学薄膜的吸收损耗的吸收测量系统.采用激光量热计方法的原因在于:它已被广泛用来测量光学薄膜吸收,并且有很高的可靠性.描述了激光量热计法测量吸收装置的设计和建立,并给出基底-薄膜整体吸收的测量结果和记录的温度曲线,最后提出了在研究激光量热计测量方法中几个要考虑的问题.

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来源
《光学仪器》 |2004年第2期|194-197|共4页
作者
刘志国; 熊胜明; 张云洞;
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作者单位

中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;

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正文语种 chi
中图分类薄膜物理学;
关键词
吸收比; 量热; YAG激光; 薄膜;

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