铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究

摘要

本文研究了探测器经注量＜1015n/cm2的快中子辐照后，在重新加偏压过程中它们的反向电流猛增而使性能变坏的原因，然后采用慢加偏压的方式恢复了探测器的性能，延长了使用寿命。