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克服矿化不均匀效应的X荧光取样最佳测网

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摘要

以"随机抽样”的数学模型为基础,探讨了X荧光取样中矿化不均匀效应产生的原因,提出了采用最佳测网以最大限度减少矿化不均匀效应的方法.理论估算与实验检验均表明,采用最佳测网后,矿化不均匀效应影响可以控制在可能的最小范围.

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来源
《核技术》|2000年第9期|632-636|共5页
作者
周四春; 赵友清; 张玉环;
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作者单位

成都理工学院成都 610059;

成都理工学院成都 610059;

成都理工学院成都 610059;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类放射性勘探;
关键词
X荧光取样; 矿化不均匀效应; 随机抽样; 最佳测网;

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