高温无机闪烁晶体Ce:YAlO3的缺陷研究

摘要

采用同步辐射白光透射形貌术研究了提拉法生长的高温无机闪烁晶体Ce:YAlO3(简称Ce:YAP)中的缺陷.实验发现在Ce:YAP晶体中存在着生长条纹、包裹沉积物、核心、孪晶及位错簇等缺陷,同时对生长缺陷形成的原因进行了讨论.结果表明,离子掺杂浓度、原料的纯度以及生长工艺条件等是影响Ce:YAP晶体缺陷的主要原因.