非均匀填充束团纵向不稳定性的模拟计算

摘要

为精确计算储存环中高频腔等高Q值元件引起的耦合束不稳定的增长率,我们通过分析束团和高频腔高次模的相互作用,编制了能计算非均匀填充束团纵向不稳定性增长率的程序--SLIAB程序.在束团均匀分布这种特例情况下,该程序与常用的ZAP程序计算得到的结果基本一致.作为一个应用实例,本文给出了高能物理研究所BEPC改进方案BEPC-Ⅱ上束腔耦合不稳定性的增长率的计算结果.