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Li2B4O7:Cu,In的热释光晒退特性研究

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摘要

制得一系列不同烧结温度的Li2B4O7:Cu,In样品,以X光衍射(XRD)、热释光(TL)、光释光(OSL)等手段研究样品的热释光陷阱的晒退特性.烧结温度对热释光陷阱的晒退特性影响较大,实验表明750℃烧结样品的热释光不易晒退.结合XRD和OSL的结果解释了烧结温度对晒退特性的影响.

著录项

来源
《核技术》|2005年第10期|804-808|共5页
作者
熊正烨; 张纯祥; 唐强;
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作者单位

中山大学物理系,广州,510275;

中山大学物理系,广州,510275;

中山大学物理系,广州,510275;

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正文语种 chi
中图分类固体缺陷;
关键词
热释光; 光释光; 晒退;

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