上海光源BL15U1束线的SRXRF定量分析

摘要

本文介绍了用于同步辐射x射线荧光(XRF)定量分析的基本参数法(FP)和MC模拟法.上海光源(SSRF)硬X射线微聚焦光束线(BL15U1)应用上述两种方法对样品进行定量分析,验证了方法的有效性并用定量分析结果计算了BL15U1光束线部分元素的荧光探测限.实验结果表明,对样品中μg/g量级元素含量的定量分析结果相对误差都在10%以内,而使用MC模拟法可以直观地比较不同参数下的模拟谱与实验谱,辅助实验参数的确定,从而减小参数引起的误差,得到更为准确的结果.此外,对BL15u1探测限的计算表明该光束线具备开展高性能荧光实验的能力.