XRF能谱多重Sallen-Key平滑滤波方法及其在大米镉含量分析中的应用

摘要

针对痕量核素测量时,特征峰容易部分或全部被背景掩盖,提出多重Sallen-Key(Multiple Sallen-Key,MSK)谱线处理技术,实现在高背景低含量X射线荧光光谱(X-Ray Fluorescence,XRF)分析中的应用。对MSK与多次高斯平滑的对比分析表明,在相同平滑效果下,MSK平滑次数更少,代码执行效率更高。对镉大米标准样的XRF实测谱线,做MSK平滑处理后,可以提高工作曲线的线性。将采用MSK方法分析所得的含量值,与采用GB5009.15-2014方法所得的含量值之间做误差分析,可得MSK处理方法能减小样品含量值的测量误差。本文提出的MSK技术可以有效抑制核能谱中的噪声,提高痕量核素含量的测量精度。