首页> 中文期刊> 《核电子学与探测技术》 >CMOS运算放大器的质子和γ辐照效应

CMOS运算放大器的质子和γ辐照效应

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

ＣＭＯＳ运算放大器的质子和γ辐照效应陆妩任迪远郭旗余学锋严荣良（中国科学院新疆物理研究所，乌鲁木齐，８３００１１）本文主要研究了ＬＦ７６５０ＣＯＭＳ运放电路在４、７、３０ＭｅＶ质子及６０Ｃｏγ两种不同辐射环境中的响应特性及变化规律，并通过对实验结果的...

著录项

来源
《核电子学与探测技术》 |1997年第5期|370|共1页
作者
陆妩; 任迪远; 郭旗;
展开▼
作者单位

中国科学院新疆物理研究所;

中国科学院新疆物理研究所;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN722.77;
关键词
CMOS; 运算放大器; γ辐照; 电离损伤; 质子辐照;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. CMOS运算放大器的质子辐照效应 [J] . 陆妩 ,任迪远 . 上海微电子技术和应用 . 1996,第002期
2. CMOS运算放大器的电子和^(60)COγ辐照效应及退火特性 [J] . 陆妩 ,任迪远 ,郭旗 . 固体电子学研究与进展 . 1998,第3期
3. CMOS APS质子辐照效应实验 [J] . 李永宏 ,徐江涛 ,李洋 . 现代应用物理 . 2021,第003期
4. 8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究 [J] . 傅婧 ,李豫东 ,冯婕 . 原子能科学技术 . 2021,第012期
5. CMOS图像传感器西安200MeV质子应用装置H^(-)辐照效应实验研究 [J] . 王祖军 ,薛院院 ,刘卧龙 . 现代应用物理 . 2021,第3期
6. CMOS运算放大器的电子和<'60>Coγ辐照效应和退火特性 [C] . 陆妩 . 第七届全国可靠性物理学术讨论会 . 1997
7. CMOS图像传感器电子和质子辐照效应研究 [A] . 张为开 . 2013

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号