滤材样品在γ能谱分析中的真符合校正研究

摘要

研究了高效率HPGe探测器测量滤材样品的真符合校正.分析了子核具有三个激发态的典型核衰变情况下的级联校正情况,具体给出了测量滤材源的情况下具有代表性的符合校正因子计算的解析表达式.实验中通过测量8种‘单能'核素点源在探测器表面各点的相对效率以及其滤材样品效率,拟合得到了HPGe探测器的峰效率曲面和总效率曲面的解析表达式,使用该曲面计算的60Co和152Eu的真符合校正因子与实验测量结果基本一致.