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X射线数字分层成像的非线性方法研究

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摘要

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域.通过实验可观察到,在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性,提出了一种新的成像方法,可以提高灵敏度,非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体,并使测量时间大大减少.

著录项

来源
《核电子学与探测技术》 |2002年第1期|35-37,67|共4页
作者
王; 李政; 刘亚强; 程建平; 倪建平; 康克军;
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作者单位

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类核电子学仪器;原子能技术的应用;
关键词
X射线; 数字分层成像; 非线性算法; 高斯分布算法;

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