首页> 中文期刊> 《核电子学与探测技术》 >关于特征X射线在γ谱仪低能效率刻度应用中偏差问题的初步探讨

关于特征X射线在γ谱仪低能效率刻度应用中偏差问题的初步探讨

         

摘要

分析了在用天然放射性232Th衰变系的低能X射线进行HPGe γ谱仪的效率刻度时出现系统偏差的原因,并就此对实际应用中应注意的问题进行了探讨.提出了特征X射线的符合相加等效应在低活度γ谱分析中可能会引起的一系列问题以及应采取的措施.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号