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Si-PIN硅条带探测器的电子学测试

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摘要

采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试.Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量.介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题.

著录项

来源
《核电子学与探测技术》 |2007年第2期|170-173|共4页
作者
邹鸿; 陈鸿飞; 邹积清; 宁宝俊; 施伟红; 田大宇; 张录;
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作者单位

北京大学空间物理与应用技术研究所;

北京大学空间物理与应用技术研究所;

北京大学空间物理与应用技术研究所;

北京大学微电子所,北京,100871;

北京大学空间物理与应用技术研究所;

北京大学微电子所,北京,100871;

北京大学微电子所,北京,100871;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类半导体探测器（晶体探测器）;
关键词
硅条带探测器; 空间粒子探测; 耗尽电容; 条间串扰;

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