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小波多分辨率分析在X荧光谱线本底扣除中的应用研究

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摘要

X射线荧光分析会使特征X射线的全能峰叠加在一定的本底之上.本底扣除的效果影响X荧光测量的精度.X射线荧光光谱是由各种频率的全能峰和本底构成,利用小波多分辨率分析,实现峰线和本底的层层剥离,达到扣除本底的效果.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2008年第4期|853-856|共4页
作者
王兴建; 葛良全; 曾国强;
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作者单位

核技术与自动化学院,成都理工大学,四川,成都,610059;

核技术与自动化学院,成都理工大学,四川,成都,610059;

核技术与自动化学院,成都理工大学,四川,成都,610059;

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正文语种 chi
中图分类 O411.2;
关键词
X射线荧光光谱; 小波多分辨率分析; 本底扣除; 小波基;

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