首页> 中文期刊>核电子学与探测技术 >252Cf中子分布条件下的中子探测效率测量

252Cf中子分布条件下的中子探测效率测量

     

摘要

利用BC-501A探测器测量了252Cf自发裂变中子源,得到不同中子阈能的252Cf中子分布条件下的中子探测效率,实验得到了252Cf中子源的核温度T=1.42±0.03MeV.

著录项

  • 来源
    《核电子学与探测技术》|2008年第1期|120-122|共3页
  • 作者单位

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 闪烁探测技术和仪器;
  • 关键词

    BC-501A探测器; 252Cf中子源; 探测效率;

  • 入库时间 2023-07-25 13:04:07

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号