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能量色散X射线荧光分析基本参数法研究

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本文介绍了EDXRF中基本参数法原理和计算方法,基于此方法用C语言设计编写了基本参数法的计算程序.通过配制的合金样用该法测定其成分含量,结果表明所测合金样的成分含量与其化学分析结果基本上一致,精确度较高,相对标准偏差不超过1.3%.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2008年第1期|146-149|共4页
作者
戴振麟; 葛良全; 邹德慧;
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作者单位

成都理工大学核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059;

成都理工大学核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059;

成都理工大学核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类Ｘ射线荧光分析法;
关键词
基本参数法; X射线; 合金样; 含量;

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